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EDX-7000/8000/8100

能量色散型X射线荧光分析装置

 

无与伦比的分析性能

采用高性能的SDD检测器,确保硬件最佳化,具有前所未有的高灵敏度·高速分析和高分辨率。可以检测出6C~的机型正式上线(EDX-8000/8100)。

高灵敏度 –提高检测下限1.5~5倍-

高性能的SDD检测器与最佳化的光学系统和一次滤光片的组合,实现前所未有的高灵敏度。
从轻元素到重元素,全范围轻松应对。与采用传统Si(Li)半导体检测器的分析装置相比,灵敏度也更胜一筹。

高速 –分析速度最大可提高10倍-

SDD检测器在单位时间内X射线荧光的计数率高,因此能够在更短的检测时间内进行高精度分析。特别是对金属材料的分析,这个特点可以得到最大限度的发挥。

测定时间与标准偏差(定量值偏差)的关系

实际样品的比较

分别用以往型号和EDX-7000/8000/8100对无铅焊锡中所含的铅(Pb)进行分析,比较重现性。

 

满足分析精度所需的检测时间

X射线荧光分析可以通过延长测定时间增加X射线荧光的计数从而提高精度(重现性)。
搭载高计数率SDD检测器的EDX-7000/8000/8100与以往型号相比,能够在更短的时间内保证分析精度。

高分辨率

能量分辨率的比较(样品:PPS树脂)

与配置以往Si(Li)半导体检测器的型号相比,能量分辨率更胜一筹。
不同元素峰值重叠的影响减小,提升可靠性。

无需液氮

SDD检测器为电子制冷方式,无需液氮冷却。不仅可以从繁琐的液氮补充作业中解放出来,更可以降低仪器的维护成本。

检测元素范围

· 用EDX-7000/8100进行15P以下的轻元素分析时,需要真空检测单元或者氦气置换检测单元(均为选购件)。
· 用EDX-8000进行15P以下的轻元素分析时,需要真空检测单元(选购件)。

用EDX-8100检测氟元素的分析结果

EDX-8000/8100进行超轻元素分析

EDX-8000/8100搭载的SDD检测器窗口采用极薄的薄膜特殊材料,能够检测碳(C)、氧(O)、氟(F)超轻元素。

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